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  • [新闻公告]   较高 ESR 对 SC 切晶体启动时间的影响
    2026-6-26     DEI Blog_06.26.26
    SC 切晶体因等效串联电阻（ESR）较高，会增大谐振回路损耗、延缓振荡建立，从而轻微延长 OCXO 启动时间。这一问题可通过优化电路负阻、提升驱动电平等设计手段有效改善。尽管启动速度略逊于 AT 切，但其凭借极低老化率、优异宽温稳定性、低相位噪声和强抗应力能力，在 5G 基站、航天、雷达等高端精密授时场景中仍具备不可替代的核心价值，启动延迟的微小代价完全可被其顶级性能所覆盖。
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